美国WATLOW瓦特隆SCM-J-WAT 插头 连接器
美国WATLOW瓦特隆SCF-J-WAT 插座 连接器
美国WATLOW瓦特隆SAC-220
美国WATLOW瓦特隆TLME301UUUUUUUU 控制器
美国WATLOW瓦特隆J24-3-512-DIN 热电偶线
美国WATLOW瓦特隆J24-3-513-DIN 热电偶线
美国WATLOW瓦特隆DC10-40P0-0000 功率控制器
美国WATLOW瓦特隆6-29-342-2
美国WATLOW瓦特隆6-32-3192-1
美国WATLOW瓦特隆K24-2-304 补偿导线
美国WATLOW瓦特隆MCM-K-NAT
美国WATLOW瓦特隆MCF-K-NAT
美国WATLOW瓦特隆K24-2-304
MCF-K-NAT 70XJTGC060A SFRJ7L-6040
SFRJ7L-6041 SFRJ6J-6042 SFRJ6C-6043
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E3A49-AB12
2-29-25-4
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TLME311IKIKIKIK
PM3C1CA-AAAAAAC
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J24-3-512-DIN
20CKSUC060A
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E4A-11674
11DJSGB120D
SFMJ200A-5695
SFMJ160A-5696
DC10-40P0-0000
温控器DC10-40P0-0000(400V)
STL-MCN-0406，SEMI-ASTA-0711，COL-EH-1210，SERIES EHG SL10，SERIES EHG
MB1J1JN3、MB1J1JN4、MB1J1JP6、MB1J2AN1、MB1J2AN2、MB1N1JN3-B12
PM3C1FJ-AAAAAAA
加热棒240V C1M-6316 60W
控制器DB10-24CO-0000 24V
热电偶AFGJ0AQ100U4030
在已知过程常规运行数据估计PID控制能实现的小方差是可行的；对于PID控制，使用PID能实现的小方差性能作为评价基准，评价结果更趋合理；通过拟合模型后再估计得到的PID控制器参数能够明显减小过程输出方差。 [1]
针对控制系统进行性能监控与评估(control performance monitoring/assessment，CPM/CPA)是当今世界过程控制界受关注的研究方向之一。控制器性能监控与评估工作可追溯到20世纪六七十年代Astrom(1967)、DeVrieWu(1978)等人的工作；到1970年，由Box，Jenkins(1976)